Home | English |
Тетерко А. Я. Модель зворотної функції перетворення приладів багатопараметрових вихрострумових вимірювань із виключенням впливу зазору | 5-11 |
Яворський І. М., Юзефович Р. М., Мацько І. Й., Шевчик В. Б. Когерентний взаємоспектральний аналіз періодично нестаціонарних вібраційних сигналів | 12-19 |
Джала P. М., Каплун А. В., Валяшек В. Б., Юзевич В. М. Модель межі металів і метод малого параметра в задачах теорії адгезії | 20-27 |
Стефанович Т. О., Щербовських С. В. Математична модель для аналізу причин непрацездатності системи з роздільним полегшеним резервуванням | 28-35 |
Семенов Б. С., Шелевицький І. В. Частотно-часовий фільтр зі статистичною ранговою селекцією коефіцієнтів | 36-42 |
Мокрий О. М., Кошовий В. В., Семак П. М. Методика вимірювання швидкості поверхневих акустичних хвиль для діагностики стану металу | 43-48 |
Муравський Л. І., Половинко Т. І. Метод трикрокової інтерферометрії з довільними зсувами фаз опорного променя | 49-54 |
Скальський В. Р., Почапський Є. П., Клим Б. П., Сімакович О. Г. Визначення координат джерел акустичної емісії у тонкостінних об’єктах циліндричної форми | 55-62 |
Личак O. В., Голинський І. С. Оцінка похибок відтворення поля напружень біля вершини тріщини плоско-деформованого тіла | 63-69 |
Максименко О. П. Швидкий алгоритм субпіксельного суміщення зображень | 70-76 |
Журавель І. М. Моделювання зеренної структури металографічних зображень за допомогою діаграм Вороного | 77-80 |
Гапонюк Я. В. Обчислення параметрів прямої лінії в умовах зашумленого зображення | 81-87 |
Воробель Р. А. Використання локального контрасту для побудови різницевих методів поліпшення якості зображень | 88-95 |
Івасенко І. Б. Сегментація дефектів на зображеннях зварних швів із використанням логарифмічної моделі | 96-99 |
Литвин В. В., Черна Т. І., Ковалевич В. М. Метод квазіреферування текстових документів на основі онтології предметної області | 100-108 |